Microscópio Eletrônico de Transmissão
O Microscópio Eletrônico de Transmissão de 120kV da série Jeol JEM-1400Flash é amplamente vantajoso por sua facilidade de uso e imagem e análise de alta resolução. As aplicações incluem patologia, biologia, controle de qualidade, nanotecnologia, polímero e desenvolvimento de materiais.
- Permite a obtenção de imagens alta resolução com o com filamento de hexaboreto de lantânio (LaB6), operando em tensão de 20 a 120Kv e aumento de até 1.500.000 de vezes;
- Análises por tomografia eletrônica 3D, permitindo a reconstrução tridimensional da amostra;
- Câmara sCMOS de alta sensibilidade (“Matataki Flash”): reduz drasticamente o ruído das análises enquanto possui alta taxa de quadros, permitindo a aquisição de imagens com excelente qualidade e baixo ruído;
- Acoplado com um sistema de Espectrometria por Energia Dispersiva de Raios-X (EDS), usado para a análise elementar ou caracterização química de amostras, os principais elementos são identificados automaticamente e exibidos na tela de observação;
- Sistema de montagem de área ultra-amplo, Panorama Ilimitado (LLP): o JEM-1400Flash vem com um sistema de montagem capaz de utilizar acionamento de estágio para a mudança de campo. Este novo sistema permite a captura simples de uma imagem panorâmica de montagem em uma ampla área ilimitada. Assim, é possível obter uma imagem de área ultra ampla e alta resolução de pixel, que é comparável à imagem obtida por filme fotográfico convencional.
Aplicações:
- Ciências biológicas:
- Visualização de micro e nanoestruturas celulares, como as organelas, membranas plasmáticas, citoplasma, dentre outras;
- Estudo de interações celulares patógeno-hospedeiro;
- Análise de alterações celulares decorrentes de patologias, como morfologia de células cancerígenas;
- Análises de citoquímica ultraestrutural para rastreamento e detecção de moléculas de interesse;
- Avaliação de citotoxicidade e outros efeitos de drogas, compostos e medicamentos na organização estrutural de diferentes modelos celulares.
2. Ciência dos materiais:
- Fornecimento de informações acerca da morfologia dos materiais como a forma, o tamanho e a dispersão da amostra;
- Análise da microestrutura (imagem em campo claro e campo escuro), cristalografia, estrutura e composição (difração de elétrons);
- Estudo da composição química do material por meio da espectroscopia de raios X por energia dispersiva (EDS, também abreviada por EDX);
- Caracterização e metrologia de nanomateriais.
3. Ciências forense:
- Estudo de resíduos de tiro.
JEM-1400Flash Electron Microscope. Disponível em <Microscópio eletrônico JEM-1400Flash | | de produtos JEOL Ltd.>. Acesso em 08 de abril de 2022.