Microscópio Eletrônico de Varredura

O Jeol JSM IT500-HR é um microscópio eletrônico de varredura (MEV) de alta resolução, possui diversas características que permitem a obtenção de imagens de alta qualidade, como:       ​

  • Emite elétrons por um canhão de emissão de campo (FEG – Field Emission Gun), de longa vida útil (5 anos) e alto brilho com corrente estável da sonda. Isso é ideal para aquisições por longos períodos, como o mapeamento automatizado de grandes áreas, proporcionando a obtenção de imagens com baixo ruído;
  • Apresenta um sistema de baixo vácuo totalmente integrado e automatizado, o que permite a visualização de amostras não metalizadas e hidratadas;
  • ​Acoplado com um sistema de Espectrometria por Energia Dispersiva de Raios-X (EDS), usado para a análise elementar ou caracterização química de amostras, os principais elementos são identificados automaticamente e exibidos na tela de observação.

Aplicações

  1. Ciências dos materiais:
    • Permite a análise estrutural de materiais, controle de qualidade e falhas;
    • Estudo de ligas metálicas, cerâmicas, polímeros, etc.;
    • Fornece dados indispensáveis para a caracterização de novos materiais de alta tecnologia.
  2. Ciências biomédicas:
    • Permite a análise morfológica de amostras biológicas, como tecidos animais, bactérias e vírus;
    • Estudo de interações patógeno-hospedeiro;
    • Avaliação de medicamentos e efeito sobre pacientes;
    • Desenvolvimento de novos tratamentos.
  3. Ciência forense:
    • Examinar e comparar corpos de prova (fragmentos de metal e balas, tinta, fios de cabelo, fibras);
    • Análise avançada na área de balística;
    • Associação de amostras com a cena do crime.
  4. Solos e amostras de solo:
    • Análise estrutural de amostras geológicas;
    • Estudo de processos de intemperismo;
    • Avaliação da composição mineral.
  5. Pesquisa paleontológica e arqueológica:
    • Analisar a microestrutura, composição de materiais obtidos de sítios arqueológicos;
    • Identificação e taxonomia de micro e macrofósseis;
    • Estudo das causas de diferentes marcas nas superfícies ósseas.

DEDAVID, B.A.; GOMES, C.I.; MACHADO, G. Microscopia eletrônica de varredura: aplicações e preparação de amostras: materiais poliméricos, metálicos e semicondutores. EdiPUCRS, 2007.

Jeol: JSM-IT500HR InTouchScope™ Scanning Electron Microscope. Disponível em <https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT500.html>. Acesso em: 20 de jun. de 2018.